3535 LCR测试仪

产品介绍：

LCR测试仪3535测试|Z|, L, C, R

测试源频率100kHz～120MHz

高速测量: 6ms

拆卸式前置放大器可选择

为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

3535LCR测试仪通过I/O接口可从外部控制触发、键盘锁开/关、以及测量条件的装载。而且比较结果、测量完成等可以输出，可应用于自动化生产线。

LCR测试仪HIOKI 3535标准配置了RS-232C和GP-IB接口，除了电源ON/OFF以外，其它功能都可以由计算机来实现控制。

RS-232C接口:

传输方式: 通信方式: 全双工，同期方式: 启停式传输

传输速度: 9,600、19,200bps数据长度: 8位

奇偶特性: 无

停止位: 1位

符号: CR+LF、CR

跟踪控制: 无

连接方法: D-sub9pin插入式、反向连接

LCR测试仪3535 GP-IB接口:

标准规格: IEEE-488.1 1987

可使用IEEE-488.2 1987的共同指令

LCR测试仪HIOKI 3535选件：

9700-10 前置放大单元：测量范围: 100mΩ～300kΩ

9677 SMD测试冶具：侧面SMD 电极;工作频率: DC～120MHz,测量对象尺寸: 3.5±0.5mm, 与3535组合使用时，无CE标记

9699 SMD测试冶具：底部SMD电极,工作频率: DC～120MHz,测量对象尺寸: 宽1.0～4.0mm, 高1.5mm以下

9678 连接电缆:电缆长: 2m

9151-02 GP-IB连接电缆:2m 长

HIOKI 3535LCR测试仪测量原理:利用数字控制的自动平衡电桥回路

从第1振荡器产生测量信号，外加于样品(DUT)，测量LOW端口电压，在其变为平衡状态(LOW端口电压0V)时，控制第2振荡器的相位和振幅。从变为平衡状态后的第2振荡器的相位和振幅，获得DUT的阻抗Z和相位角θ。

LCR测试仪HIOKI 3535为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能，应用范围广，例如芯片互感、高速磁头测试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535拆离，使用指定电缆将其延伸，并尽可能接近被测物，以减小测量导线的影响。简易的操作和低廉的价格，赋予这些元器件测试仪器出众的性价比。无论是用于实验室评估运行特性，还是用于生产线，都是您的理想选择。

宽频测量范围

测量频率100kHz~120MHz，以4位分辨率进行设置。

最快6ms高速测量

4种采样速度可供选择:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。最快约为6ms(显示|Z|时)，为提高生产线效率提供快速采样。(测量频率视测量参数的不同而不同)。

14种测量参数

可测量以下参数，也可使用计算机捕捉必要的参数。|Z|，|Y|，θ，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，Lp，Ls，Cp，Cs，D(tanδ)和Q。

测量的同时进行测量条件的调整

测量频率、信号电平等测量条件，可在监视测量值的同时进行更改，所以可有效发挥于事前测量、评估标准等设置。

测量值的存储

主机可存储200组测量值。保存数据可一次传输到计算机或打印出来。

放大显示功能

最多4组参数可放大显示，便于生产线或其它距显示有一定距离的情况下观察测量值。

打印输出

使用选件9442打印机，测量值、比较结果和屏幕数据可打印输出。

BIN(分类)测量

2种测量最多使用10组分类，利用测量值可以很容易地进行分类。

连续测量

可存储30组测量条件。从中最大可连续测量保存于屏幕的5组测量条件。使用比较器功能时，使用1台、并通过一系列的操作，可获得这些条件的AND输出。

负载补偿功能

测量用于基准参考的样品，可补偿测量值。用此功能可调和各仪器间的测量值。

存储30组测量条件

利用可存储30组包括比较值在内的测量条件的功能，为随时更换的样品检测的反复测量生产线，提供快速响应。

同时测量4种参数

可选择任何4种参数同时测量并显示。

相关补偿功能

可设置以下补偿系数a和b，达到对测量值的补偿。补偿值=a×测量值+b